半自動(dòng)探針臺(tái)
簡(jiǎn)要描述：CBTZ半自動(dòng)探針臺(tái)CBTZ自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào)：CBTZ- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間：2023-06-20
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CBTZ自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試，
操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。
與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試 。
CBTZ半自動(dòng)探針臺(tái)
主要技術(shù)參數(shù)
可測(cè)片型：3 寸、 4寸、5寸，6寸、8寸
測(cè)試硅片單元尺寸：20—200 mil
定位精度：≤ ±0.01mm/110mm
自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)精度：±0.01mm
誤測(cè)率：≤ 1 ‰
全自動(dòng)對(duì)位時(shí)間：≤ 15 s
測(cè)試速度 45 mil 5.0 pcs/s
50 mil 4.6 pcs/s
87 mil 4.2 pcs/s
步進(jìn)分辨率：0.001
Z向行程：0～5mm 可調(diào)
承片臺(tái)轉(zhuǎn)角θ調(diào)節(jié)范圍：±20o
| CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能 對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試，操作簡(jiǎn)單， 快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功 能。它與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成 對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能 測(cè)試 。 |  |
操作方式CBTZ型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)
<span text-align:center;font-size:12px;"="" style="font-family: Arial"> 機(jī)器軟件的操作界面 | 除此之外還提供了更加簡(jiǎn)潔 方 便的小鍵盤(pán)操作方式，操作者可依據(jù) 個(gè)人偏好和習(xí)慣選擇任意種操作 。
功能小鍵盤(pán) |
機(jī)器功能具有自動(dòng)掃描對(duì)位功能，對(duì)位精度 | 具有圓形測(cè)試，范圍重測(cè)，探邊 測(cè)試，范圍打點(diǎn)，回收測(cè)試，矩形測(cè)試和脫機(jī)打點(diǎn)多種測(cè)試功能。  |
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